<공시> 인텍플러스, 반도체 소자 비전 검사 시스템 대만 특허 취득

아주경제 이광효 기자=인텍플러스는 14일 공시를 통해 반도체 소자 비전 검사 시스템 대만 특허를 취득했다고 밝혔다.

인텍플러스는 “본 발명은 메모리 모듈과 같은 반도체 소자의 자동 광학 검사 시스템의 장비 소형화 및 검사 속도를 개선할 수 있는 반도체 소자 비전 검사 시스템에 관한 것”이라고 말했다.

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